MX400金相顯微鏡金相顯微鏡應用于工業檢測及金相分析領域，各操作機構根據人機工程學設計，大限度減輕使用疲勞。模塊化的部件設計，可對系統功能進行自由組合。大行程移動工作平臺，長工作距半復消色差物鏡，圖像銳利清晰，集成了明場、斜照明、偏光、DIC微分干涉等多種觀察功能，可根據實際應用，進行功能選擇。安全、穩重的機架結構設計采用全新設計的長工作距物鏡、半復消色差技術，多層寬帶鍍膜技術，采用長壽命
在線客服| 品牌 | 自營品牌 | 產地類別 | 國產 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 化工,地礦,能源,電子,綜合 |
MX400金相顯微鏡
MX400金相顯微鏡
工業檢測級顯微鏡鏡體，低重心、高剛性、高穩定性金屬機架，保證了系統的抗震能力與成像穩定性。
其前置低手位粗微調同軸調焦機構，內置100-240V寬電壓變壓器，可適應不同地區的電網電壓。底座內部設計有風循環散熱系統，長時間使用也不會使機架過熱。
光學系統
采用全新設計的長工作距物鏡、半復消色差技術，多層寬帶鍍膜技術，采用長壽命LED光源，配合多種高度功能化的附件，能滿足各種檢驗需要，可用于明場、簡易偏光、微分干涉觀察，專為LCD行業 / TFT玻璃 / COG導電粒子壓痕、粒子爆破檢查。
移動平臺
配備了4寸帶離合器的機械平臺230X215mm，行程105mmX105mm，可快速移動，舒適人機工程學設計，高剛性鏡筒，“Y"型底座，調焦機構采用前置式操作控制，精微調同軸。
反射照明器
單顆大功率5W白色LED照明，帶斜照明機構。切換至斜照明時，可以使物體表面不同材質部分呈現立體圖案，增加觀察的對比度與視覺效果。
全新研發的U-DICR 微分干涉組件，可以將明場觀察下無法檢測的細微高低差，轉化為高對比度的明暗差并以立體浮雕形式表現出來，如LCD 導電粒子，精密磁盤表面劃痕等。
